光譜儀使用說明及組成部分
發(fā)布時(shí)間： 2022-01-10 瀏覽次數(shù): 作者：邁昂科技
光譜儀使用說明
一、開機(jī)
1、確認(rèn)光譜儀有足夠的氬氣可用以持續(xù)工作。
2、確認(rèn)廢液收集桶有充足空間用以容納廢液。
3、開啟氬氣，同時(shí)調(diào)節(jié)出口壓力在0.5-0.7Mpa之間。
4、開啟穩(wěn)壓器電源大概1分鐘之后，再開啟主機(jī)電源。
1、確認(rèn)好氬氣的儲(chǔ)量及壓力，保證儀器已驅(qū)氣至少三十分鐘以上。
2、確認(rèn)光室溫度穩(wěn)定在90±0.5℉。
3、檢查并確認(rèn)進(jìn)樣系統(tǒng)看是否正確安裝。
4、開啟光譜儀抽風(fēng)機(jī)電源，確認(rèn)風(fēng)門全部開啟，且有充足的抽風(fēng)力。
5、開啟TEVA軟件進(jìn)行點(diǎn)火操作。
1、調(diào)用分析法。
2、準(zhǔn)備好“標(biāo)準(zhǔn)”及待測樣品。
3、做標(biāo)準(zhǔn)樣品以便進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。
1、分析結(jié)束后，分別用去稀硝酸和離子水沖洗進(jìn)樣系統(tǒng)5-10分鐘后熄火。
2、關(guān)閉抽風(fēng)機(jī)電源，松開蠕動(dòng)泵夾。
3、確保CID溫度升到15℃以上，之后再繼續(xù)驅(qū)氣20分鐘，關(guān)閉氬氣。
一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測系統(tǒng)組成。其中包括以下幾個(gè)主要部分：
1.入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2.準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3.色散元件：通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。
4.聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。
5.探測器陣列：放置于焦平面，用以測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
一、開機(jī)
1、確認(rèn)光譜儀有足夠的氬氣可用以持續(xù)工作。
2、確認(rèn)廢液收集桶有充足空間用以容納廢液。
3、開啟氬氣，同時(shí)調(diào)節(jié)出口壓力在0.5-0.7Mpa之間。
4、開啟穩(wěn)壓器電源大概1分鐘之后，再開啟主機(jī)電源。
5、打開電腦、顯示器和打印機(jī)，啟動(dòng)TEVA軟件。
1、確認(rèn)好氬氣的儲(chǔ)量及壓力，保證儀器已驅(qū)氣至少三十分鐘以上。
2、確認(rèn)光室溫度穩(wěn)定在90±0.5℉。
3、檢查并確認(rèn)進(jìn)樣系統(tǒng)看是否正確安裝。
4、開啟光譜儀抽風(fēng)機(jī)電源，確認(rèn)風(fēng)門全部開啟，且有充足的抽風(fēng)力。
5、開啟TEVA軟件進(jìn)行點(diǎn)火操作。
6、點(diǎn)火后穩(wěn)定15-30分鐘。
1、調(diào)用分析法。
2、準(zhǔn)備好“標(biāo)準(zhǔn)”及待測樣品。
3、做標(biāo)準(zhǔn)樣品以便進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。
4、分析未知樣品。
1、分析結(jié)束后，分別用去稀硝酸和離子水沖洗進(jìn)樣系統(tǒng)5-10分鐘后熄火。
2、關(guān)閉抽風(fēng)機(jī)電源，松開蠕動(dòng)泵夾。
3、確保CID溫度升到15℃以上，之后再繼續(xù)驅(qū)氣20分鐘，關(guān)閉氬氣。
4、退出TEVA軟件，關(guān)閉光譜儀主機(jī)電源、穩(wěn)壓器。
一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測系統(tǒng)組成。其中包括以下幾個(gè)主要部分：
1.入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2.準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3.色散元件：通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。
4.聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。
5.探測器陣列：放置于焦平面，用以測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
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